產品型號：GRUMTF-1

適用范圍：

微帶/薄膜濾波器、耦合器、功分器；薄膜/厚膜貼片衰減器、隔離器、負載；MEMS濾波器、IPD器件以及其他小型化平面電路或具有平面焊盤引出端的元器件的高頻參數精確測試。

產品特點： 

同軸傳輸線內導體和微帶線直接壓接，通過調整介電常數等工藝手段匹配寄生參數，最大程度減小傳輸反射面，適用頻率高達40GHz。

通用性強，測試精確，不同器件只需更換器件載片即可滿足測試需要。

采用高精度連續行程移動平臺，夾具與待測件連接點可在X-Y-Z三個方向任意調節，千分尺刻度控制位移，待測件引出端位置任意變化均可保證連接精度。

采用電子顯微鏡輕松觀察待測件連接點，適用微小芯片級元器件精確連接測試。

涉及微波傳輸的關鍵部件采用黃銅鍍金加工工藝，具有良好的傳輸和接地特性。

校準件：

采用TRL 校準件，可將儀表的測試參考面校準到待測件兩端。使用時在儀表中設置校準件參數，按儀表提示將校準件放入夾具測試位校準即可。不同尺寸待測件可共用同一套校準件。

載片： 

GRUMTF-1 的基本結構通用性很強，不同器件只需設計寬度與待測件寬度一致的載片即可。測試載片結構和校準件一致。